软件介绍
CrystalDiskInfo是一款专业电脑硬盘信息检测工具，支持机械硬盘，固态硬盘信息检测，采用了最新的S.M.A.R.T.技术检测分析，更方便的读取磁盘的详细信息，包含了温度，固件，序列号等内容，更方便的处理和检测务类参数。
使用方法
1、软件不用安装打开即用;
2、然后进入CrystalDiskInfo主界面，可以看到基本的情况
3、点击菜单栏上的“硬盘”选项卡可以切换到不同的硬盘状态
4、健康状态的硬盘和非健康状态下的硬盘可以通过直观的图示显示出来
5、如果出现非健康状态，一定要引起重视。如果在保修期内，可以联系厂商进行售后处理。如果已经过保，要及时备份重要数据。
crystaldiskinfo参数解读
当前值(value)
当前值是各ID项在硬盘运行时根据实测原始数据(Raw value)通过公式计算的结果，1到253之间。253意味着最好情况，1意味着最坏情况。计算公式由硬盘厂家自定。
硬盘出厂时各ID项目都有一个预设的最大正常值，也即出厂值，这个预设的依据及计算方法为硬盘厂家保密，不同型号的硬盘都不同，最大正常值通常为100或200或253，新硬盘刚开始使用时显示的当前值可以认为是预设的最大正常值(有些ID项如温度等除外)。随着使用损耗或出现错误，当前值会根据实测数据而不断刷新并逐渐减小。因此，当前值接近临界值就意味着硬盘寿命的减少，发生故障的可能性增大，所以当前值也是判定硬盘健康状态或推测寿命的依据之一。
最差值(Worst)
最差值是硬盘运行时各ID项曾出现过的最小的value。
最差值是对硬盘运行中某项数据变劣的峰值统计，该数值也会不断刷新。通常，最差值与当前值是相等的，如果最差值出现较大的波动(小于当前值)，表明硬盘曾出现错误或曾经历过恶劣的工作环境(如温度)。
临界值(Threshold)
在报告硬盘FAILED状态前，WORST可以允许的最小值。
临界值是硬盘厂商指定的表示某一项目可靠性的门限值，也称阈值，它通过特定公式计算而得。如果某个参数的当前值接近了临界值，就意味着硬盘将变得不可靠，可能导致数据丢失或者硬盘故障。由于临界值是硬盘厂商根据自己产品特性而确定的，因此用厂商提供的专用检测软件往往会跟Windows下检测软件的检测结果有较大出入。
硬盘的每项SMART信息中都有一个临界值(阈值)，不同硬盘的临界值是不同的，SMART针对各项的当前值、最差值和临界值的比较结果以及数据值进行分析后，提供硬盘当前的评估状态，也是我们直观判断硬盘健康状态的重要信息。根据SMART的规定，状态一般有正常、警告、故障或错误三种状态。
SMART判定这三个状态与SMART的 Pre-failure/advisory BIT(预测错误/发现位)参数的赋值密切相关，当Pre-failure/advisory BIT=0，并且当前值、最差值远大于临界值的情况下，为正常标志。当Pre-failure/advisory BIT=0，并且当前值、最差值大于但接近临界值时，为警告标志;当Pre-failure/advisory BIT=1，并且当前值、最差值小于临界值时，为故障或错误标志
原始值(RAW_VALUE)
制造商定义的原始值，从VALUE派生。
数据值是硬盘运行时各项参数的实测值，大部分SMART工具以十进制显示数据。
数据值代表的意义随参数而定，大致可以分为三类：
1)数据值并不直接反映硬盘状态，必须经过硬盘内置的计算公式换算成当前值才能得出结果;
2)数据值是直接累计的，如Start/Stop Count(启动/停止计数)的数据是50，即表示该硬盘从出厂到现在累计启停了50次;
3)有些参数的数据是即时数，如Temperature(温度)的数据值是44，表示硬盘的当前温度是44℃。
因此，有些参数直接查看数据也能大致了解硬盘目前的工作状态。
01(001)底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate
数据为0或任意值，当前值应远大于与临界值。
底层数据读取错误率是磁头从磁盘表面读取数据时出现的错误，对某些硬盘来说，大于0的数据表明磁盘表面或者读写磁头发生问题，如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。不过对希捷硬盘来说，许多硬盘的这一项会有很大的数据量，这不代表有任何问题，主要是看当前值下降的程度。
在固态硬盘中，此项的数据值包含了可校正的错误与不可校正的RAISE错误(UECC+URAISE)。
注：RAISE(Redundant Array of Independent Silicon Elements)意为独立硅元素冗余阵列，是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术，保证内部有类似RAID阵列的数据安全性。
02(002)磁盘读写通量性能 Throughput Performance
此参数表示硬盘的读写通量性能，数据值越大越好。当前值如果偏低或趋近临界值，表示硬盘存在严重的问题，但现在的硬盘通常显示数据值为0或根本不显示此项，一般在进行了人工脱机SMART测试后才会有数据量。
03(003)主轴起旋时间 Spin Up Time
主轴起旋时间就是主轴电机从启动至达到额定转速所用的时间，数据值直接显示时间，单位为毫秒或者秒，因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说，这一项仅仅是一个参考值，硬盘每次的启动时间都不相同，某次启动的稍慢些也不表示就有问题。
硬盘的主轴电机从启动至达到额定转速大致需要4秒～15秒左右，过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0，这就要看当前值和最差值来判断了。
对于固态硬盘来说，所有的数据都是保存在半导体集成电路中，没有主轴电机，所以这项没有意义，数据固定为0，当前值固定为100。
04(004)启停计数 Start/Stop Count
这一参数的数据是累计值，表示硬盘主轴电机启动/停止的次数，新硬盘通常只有几次，以后会逐渐增加。系统的某些功能如空闲时关闭硬盘等会使硬盘启动/停止的次数大为增加，在排除定时功能的影响下，过高的启动/停止次数(远大于通电次数0C)暗示硬盘电机及其驱动电路可能有问题。
这个参数的当前值是依据某种公式计算的结果，例如对希捷某硬盘来说临界值为20，当前值是通过公式“100-(启停计数/1024)”计算得出的。若新硬盘的启停计数为0，当前值为100-(0/1024)=100，随着启停次数的增加，该值不断下降，当启停次数达到81920次时，当前值为100-(81920/1024)=20，已达到临界值，表示从启停次数来看，该硬盘已达设计寿命，当然这只是个寿命参考值，并不具有确定的指标性。
这一项对于固态硬盘同样没有意义，数据固定为0，当前值固定为100。
05(005)重映射扇区计数 Reallocated Sectors Count/ 退役块计数 Retired Block Count
数据应为0，当前值应远大于临界值。
当硬盘的某扇区持续出现读/写/校验错误时，硬盘固件程序会将这个扇区的物理地址加入缺陷表(G-list)，将该地址重新定向到预先保留的备用扇区并将其中的数据一并转移，这就称为重映射。执行重映射操作后的硬盘在Windows常规检测中是无法发现不良扇区的，因其地址已被指向备用扇区，这等于屏蔽了不良扇区。
这项参数的数据值直接表示已经被重映射扇区的数量，当前值则随着数据值的增加而持续下降。当发现此项的数据值不为零时，要密切注意其发展趋势，若能长期保持稳定，则硬盘还可以正常运行;若数据值不断上升，说明不良扇区不断增加，硬盘已处于不稳定状态，应当考虑更换了。如果当前值接近或已到达临界值(此时的数据值并不一定很大，因为不同硬盘保留的备用扇区数并不相同)，表示缺陷表已满或备用扇区已用尽，已经失去了重映射功能，再出现不良扇区就会显现出来并直接导致数据丢失。
这一项不仅是硬盘的寿命关键参数，而且重映射扇区的数量也直接影响硬盘的性能，例如某些硬盘会出现数据量很大，但当前值下降不明显的情况，这种硬盘尽管还可正常运行，但也不宜继续使用。因为备用扇区都是位于磁盘尾部(靠近盘片轴心处)，大量的使用备用扇区会使寻道时间增加，硬盘性能明显下降。
这个参数在机械硬盘上是非常敏感的，而对于固态硬盘来说同样具有重要意义。闪存的寿命是正态分布的，例如说MLC能写入一万次以上，实际上说的是写入一万次之前不会发生“批量损坏”，但某些单元可能写入几十次就损坏了。换言之，机械硬盘的盘片不会因读写而损坏，出现不良扇区大多与工艺质量相关，而闪存的读写次数则是有限的，因而损坏是正常的。所以固态硬盘在制造时也保留了一定的空间，当某个存储单元出现问题后即把损坏的部分隔离，用好的部分来顶替。这一替换方法和机械硬盘的扇区重映射是一个道理，只不过机械硬盘正常时极少有重映射操作，而对于固态硬盘是经常性的。
在固态硬盘中这一项的数据会随着使用而不断增长，只要增长的速度保持稳定就可以。通常情况下，数据值=100-(100×被替换块/必需块总数)，因此也可以估算出硬盘的剩余寿命。
Intel固态硬盘型号的第十二个字母表示了两种规格，该字母为1表示第一代的50纳米技术的SSD，为2表示第二代的34纳米技术的SSD，如SSDSA2M160G2GN就表示是34nm的SSD。所以参数的查看也有两种情况：
50nm的SSD(一代)要看当前值。这个值初始是100，当出现替换块的时候这个值并不会立即变化，一直到已替换四个块时这个值变为1，之后每增加四个块当前值就+1。也就是100对应0～3个块，1对应4～7个块，2对应8～11个块……
34nm的SSD(二代)直接查看数据值，数据值直接表示有多少个被替换的块。
软件截图
